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測試服務

可靠性試驗與測試

  上海華嶺與合作伙伴一起根據集成電路產品的生命周期提供完善的芯片級可靠性試驗與測試服務,我們擁有豐富的經驗和專業團隊,可為客戶提供極佳的服務。

  

   

根據試驗等級分為如下幾類:
一、使用壽命測試項目(Life test items):  

EFR, OLT (HTOL), LTOL
①EFR:早期失效等級測試( Early fail Rate Test )
②HTOL/ LTOL:高/低溫操作生命期試驗(High/ Low Temperature Operating Life )

 
二、環境測試項目(Environmental test items)  

PRE-CON, THB, HAST, PCT, TCT, TST, HTST, Solder ability Test, Solder Heat Test
①PRE-CON:預處理測試( Precondition Test )
②THB: 加速式溫濕度及偏壓測試(Temperature Humidity Bias Test )
③高加速溫濕度及偏壓測試(HAST: Highly Accelerated Stress Test )
④PCT:高壓蒸煮試驗 Pressure Cook Test (Autoclave Test)
⑤TCT: 高低溫循環試驗(Temperature Cycling Test )
⑥TST: 高低溫沖擊試驗(Thermal Shock Test )
⑦HTST: 高溫儲存試驗(High Temperature Storage Life Test )
⑧可焊性試驗(Solder ability Test )
⑨SHT Test:焊接熱量耐久測試( Solder Heat Resistivity Test )

 
三、耐久性測試項目(Endurance test items )  

Endurance cycling test, Data retention test
①周期耐久性測試(Endurance Cycling Test )
②數據保持力測試(Data Retention Test)
依據標準:MIT-STD-883
  
我們的服務還包括:   

·試驗報告
·數據追溯
·……

    

如需了解更詳細資料,請聯系 業務

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